Inspection・measurement
produced by ミカサ(株)
お気軽にお問い合わせください
営業時間 / 9:00~17:00(月~金)(祝祭日除く)
ご相談お問い合わせ
HOME
半導体検査・測定装置.com
ホーム > 技術資料/FAQ > 製品: 光干渉式膜厚計 > 測定について > 膜厚計で表面が鏡面でない基板上の膜の膜厚測定はできますか?
光を乱反射する様な凹凸が基板表面にある場合、測定できない場合があります。 サンプル測定にてご確認ください。
フォㇳリソLab
(半導体検査・測定装置)